环形通量EF的定义

随着 LC/MPO 盒之类低损耗光纤组件的推广应用，损耗预算（测试限制）变得越来越小。这样一来，安装商会发现以前进行光线测试的方法和假设不再适用。

虽然电信工业协会 (TIA) 依旧允许每个连接器的衰减为 0.75 dB，但工厂抛光连接器的衰减接近 0.2 dB。因此，在测试 TIA 极限值时，安装商面对诸多的不确定性。换句话说，他们的测试实践需要合理化，而不求**。

然而，咨询人员和布线供应商现在都开始根据组件性能而不是标准**计算损耗预算。测试实践中的允许公差已不存在。为了与时俱进，安装商需要重新评估他们的光纤测试仪设备和程序。

通过舱壁接合器设置基准不再是可有可无，而必须运用一条基准测试线（1 个跳接）保持从源到仪表的基准。DSX-5000进行某些设置时，需要对新的测试设备进行投资并提供一些必要相关培训。环形通量EF的定义

测试基准线也必须配备基准等级连接器，ISO/IEC 14763-3将其定义为在多种模式下=0.1 dB，在单一模式下 =0.2 dB。当低损耗盒配备 0.15 dB LC 连接器时，若使用任何不及 0.15 dB 的 LC 连接器进行测试，结果将不容乐观或者可能失败。

当许多安装商正竞相调整和优化他们的测试程序时，在本篇文章的*后部分将介绍降低测量不确定性的方法，您可能已经听说过。它称作环形通量 (EF)。

如果两个技术人员使用带基准等级连接器及心轴的相同基准测试线，但采用两种不同的光源，那么可能会出现两种不同的读数。我们从 ISO/IEC 14763-3在测量不确定性方面所做的工作了解到，使用相同的源能够将衰减度限制在 +/- 0.09 dB 范围内。

这便是光纤测试的性质。光纤连接被认为是随机的，这是配备基准等级连接器非常重要的原因。然而，如果您当时使用两个不同的光源，即使您已经对它们做出了调整，也会出现额外的不确定性。这一不确定性是由光射入光纤的方式导致的。

很多年前，虽然有时被称为耦合效率 (CPR)，TIA 还是尝试这一发射概念定义。那是一个很好的尝试，但源之间的发射依然存在太多的可变性。因此，在2010中， TIA 和 IEC 创建了 EF，以便进一步限制发射条件。环形通量EF的定义

关于那些插入标准数字的排列，您需要留意针对 EF 的 ANSI/TIA-526-14-B 或 IEC61280-4-2 （它们是相同的文档）。缺失这个标准即是如何在这一领域进行实施。很多人认为，这是属于实验室的要求，因为目前在这一领域的实施状况并不理想。

为此， TIA 正致力于解决 TIA-TSB-4979 的实际问题，以实现这一领域多模发射的条件。电信系统公告介绍了两种方法。一种是使用替代心轴的模式调节器，这种方法不太令人满意（而且成本不菲）。另外一种方法是配备剔除了多余模式设备的 EF 兼容源。环形通量EF的定义

EF 兼容似乎将成为接下来一年许多测试规范的需求，因此，安装商可能会关注这一领域的发展。