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光缆测试过程当中出现负损耗的原因
日期：2024-04-26 22:00
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摘要：光缆测试过程当中，经常会出现某些光纤链路显示负损耗，这是什么原因呢？如何规避这种问题，本文将带你了解一下具体的解决方案。光缆测试过程当中出现负损耗的原因。
福禄克为什么光缆测试的测试结果会出现“负损耗”？常见型号有，DSX-5000加上CFP-100-Q，DTX-1800加上单模模块DTX-S***或者多模模块DTX-M***。
负损耗表示光纤链路不但没有损耗，反而还有“增益”，当然这是不真实的。主要原因来自于以下各种偏差和误差。光缆测试过程当中出现负损耗的原因？
其一，在光源端口，光能量不都是全部射入测试跳线中的，其“耦合效率”的高低与端口结构的几何尺寸和几何偏差有关，且与测试跳线插头的几何尺寸的“偏差”也有关。所以，归零以后一般不允许再插拔测试跳线，否则会破坏端口耦合效率，如若不小心拔出了跳线，则必须重新归零，只有这样才能避免增大测试误差。对短链路而言，归零后插拔端口跳线会令损耗增加或“减少”—这导致出现测试结果为“负损耗”的现象。
其二，如果归零时跳线端面附着有纤维屑或灰尘，但归零后脱落，也可能会出现“负损耗”。
第三，开机未预热就归零，因仪器工作参数漂移而出现“负损耗”。一般建议预热5 分钟，温差较大时应预热 10 分钟。
第四，归零时跳线插拔不到位(损耗偏大)。光缆测试过程当中出现负损耗的原因。
第五，如果归零用的耦合器本身偏差较大(比如轴向对准偏差较大)，则归零后测试短链路时也可能会出现负损耗。
第六，劣质测试跳线或跳线本身不稳定。光缆测试过程当中出现负损耗的原因。
