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福祿克Fluke手持式電纜分析儀DSP/DTX/DSX小史
日期：2025-05-06 01:46
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摘要：
1、DSP係列電纜分析儀
1994年福祿克推出基於全數字處理技術的電纜分析儀，由於使用了DSP芯片，故取名DSP電纜分析儀。
這在當時是個劃時代的產品。因為那時的電纜測試儀都是基於“掃頻儀+信號接收儀”原理設計的，使用模擬信號方式進行測試和分析。時至今日，台式的網分(NA或VNA)仍是這樣的產品，並無大的變化。
同期，福祿克還有MicroTest模擬測試產品在售。
當時的測試對象是雙絞線數據電纜和雙絞線總線，由...
1、DSP係列電纜分析儀
1994年福祿克推出基於全數字處理技術的電纜分析儀，由於使用了DSP芯片，故取名DSP電纜分析儀。
這在當時是個劃時代的產品。因為那時的電纜測試儀都是基於“掃頻儀+信號接收儀”原理設計的，使用模擬信號方式進行測試和分析。時至今日，台式的網分(NA或VNA)仍是這樣的產品，並無大的變化。 福祿克Fluke手持式電纜分析儀DSP/DTX/DSX小史
同期，福祿克還有MicroTest模擬測試產品在售。 福祿克Fluke手持式電纜分析儀DSP/DTX/DSX小史
當時的測試對象是雙絞線數據電纜和雙絞線總線，由於速度低、信號端口多為2線對單向全雙工(例如10/100Base-T以太網)，故主要要求對損耗、(線對間)串擾做測試。 福祿克Fluke手持式電纜分析儀DSP/DTX/DSX小史
進入上世紀90年代後期，隨著1GBase-T的出現以及總線速度的提速，信號端口改為1線對雙向全雙工。這就帶來單線對回波對自身的影響，故測試指標和功能增加了回波損耗(Return Loss)這個參數，且用回波損耗參數代替特性阻抗參數進行測試。
這樣的好處是避免了特性阻抗連續性測試的麻煩，而回波損耗參數又可以通過傅立葉變換很容易得到TDR曲線，這條曲線非常直觀地指示出阻抗不連續的物理定位(故障位置)。 福祿克Fluke手持式電纜分析儀DSP/DTX/DSX小史
同時，DSP還利用類似的TDX原理來定位串擾過大的物理位置。
福祿克公司並為此申請了HDTDR/HDTDX**。
測試適配器方麵，由於基本鏈路並不適合現場大量測試的穩定性，後來被長久鏈路替代。但長久鏈路仍存在測試跳線的不穩定性，於是2002年福祿克推出了專門的長久鏈路適配器，取代使用廠商跳線測試帶來的測試不確定性。 福祿克Fluke手持式電纜分析儀DSP/DTX/DSX小史
隨著六類線的推出，不同廠商間係統不兼容問題突出，長久鏈路的可更換測試尖頭推出了適合廠商不兼容性的個性化模塊PMxx，其中PM06是被標準推薦的居中性模塊，用於認證廠商之間是否可以實現*低限度的“跳線可互換”。
DSP係列電纜分析儀2004年下市。
2、DTX係列電纜分析儀
隨著網絡速度越來越高，對電纜的潛力挖掘也進一步深入。由於北美主要推崇性價比優異的非屏蔽雙絞線，福祿克公司預見到隻考慮線對間串擾是不夠的，於是於2004年推出了DTX係列線纜分析儀。
除了測試速度比DSP更快以外，主要的變化就是可以支持纜間串擾測試(即外部串擾測試)。這對於萬兆以太網尤其重要。測試精度IV級。
當然，DTX保留並增強了**技術HDTDR/HDTDX，定位精度更高。
DTX成為市場占有率*大的產品，並成為事實上的比對標準。
由於用戶的戀舊情緒，DTX係列於2015年比計劃延遲2年下市。
3、DSX係列電纜分析儀
隨著本世紀大量個人wifi設備的出現(外加基站/微波爐/無線視頻探頭等輻射)，以及數據機房單個機架用電量的增長(電力諧波和接地回路乾擾增強)，加上工業以太網和物聯網的快速推進，雙絞線的電磁工作環境比上個世紀90年代惡化了不少。這導致上個世紀製定的測試指標雖然測試合格且參數優良，但鏈路仍然可能出現丟包率超標的問題。針對這一情況，TIA和ISO都於2010年提出要對雙絞線的抗外來輻射乾擾能力(平衡參數)進行檢測，並推出了三個新指標：不平衡電阻、TCL和ELTCTL。由於DTX設計時並未考慮這一新要求，故將平衡參數測試功能轉到新設計的DSX電纜分析儀中。 福祿克Fluke手持式電纜分析儀DSP/DTX/DSX小史
DSX電纜分析儀除速度提升，物理帶寬提升外(DSX-5000
1000MHz，DSX-8000
2000MHz)，*主要的變化就是引入了抗外來輻射乾擾的測試能力(平衡參數測試)，另外精度也達到新標準的要求(V/VI,
2G)，外部串擾測試能力內置為一體化，使用更加方便。
可以認為，DSX係列電纜分析儀是迄今為止**滿足標準要求的手持式現場測試儀。
另外不平衡電阻這個參數還具有雙重功能，除了可以直接引起雙絞線的不平衡外，還可以引起PoE設備因為此參數超標而導致“48V電源輸送成功但信號傳輸能力下降或失敗”的特殊現象。
此外，DSX默認還能對高速率數據處傳送要求避免的虛接地情況進行識彆並定位故障的物理位置(DTX測需要改裝一下測試跳線)。
測試參數的曆史沿革和演變簡單地說就是： 福祿克Fluke手持式電纜分析儀DSP/DTX/DSX小史
- 90年代上半期: IL, NEXT等, (HDTDR/HDTDX)
- 90年代末期: IL, NEXT, RL等, (HDTDR/HDTDX)
- 2000年代前半期: IL, NEXT, RL等, (HDTDR/HDTDX)
- 2000年代後半期: IL, NEXT, RL, AxTalk等, (HDTDR/HDTDX)
- 2010年代: IL, NEXT, RL, AxTalk, TCL, ELTCTL, UBR(不平衡電阻)等, (HDTDR/HDTDX, 虛接地)