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光纜測試過程當中出現負損耗的原因
日期：2025-05-06 03:21
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摘要：光纜測試過程當中，經常會出現某些光纖鏈路顯示負損耗，這是什麼原因呢？如何規避這種問題，本文將帶你了解一下具體的解決方案。光纜測試過程當中出現負損耗的原因。
福祿克為什麼光纜測試的測試結果會出現“負損耗”？常見型號有，DSX-5000加上CFP-100-Q，DTX-1800加上單模模塊DTX-S***或者多模模塊DTX-M***。
負損耗表示光纖鏈路不但冇有損耗，反而還有“增益”，當然這是不真實的。主要原因來自於以下各種偏差和誤差。光纜測試過程當中出現負損耗的原因？
其一，在光源端口，光能量不都是全部射入測試跳線中的，其“耦合效率”的高低與端口結構的幾何尺寸和幾何偏差有關，且與測試跳線插頭的幾何尺寸的“偏差”也有關。所以，歸零以後一般不允許再插拔測試跳線，否則會破壞端口耦合效率，如若不小心拔出了跳線，則必須重新歸零，隻有這樣才能避免增大測試誤差。對短鏈路而言，歸零後插拔端口跳線會令損耗增加或“減少”—這導致出現測試結果為“負損耗”的現象。
其二，如果歸零時跳線端麵附著有纖維屑或灰塵，但歸零後脫落，也可能會出現“負損耗”。
第三，開機未預熱就歸零，因儀器工作參數漂移而出現“負損耗”。一般建議預熱5 分鐘，溫差較大時應預熱 10 分鐘。
第四，歸零時跳線插拔不到位(損耗偏大)。光纜測試過程當中出現負損耗的原因。
第五，如果歸零用的耦合器本身偏差較大(比如軸向對準偏差較大)，則歸零後測試短鏈路時也可能會出現負損耗。
第六，劣質測試跳線或跳線本身不穩定。光纜測試過程當中出現負損耗的原因。
