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AEM-TestPro技術公告多模光纖適配器
日期:2025-05-05 14:07
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摘要:
TestPro 技術公告多模光纖適配器:850nm 環形通量 LED 光源
ANSI/TIA-568.3-D 標準規定了光纖布線的傳輸性能和測試要求。已安裝光纖布線的第 1 層測試需要測量衰減(光損耗)、長度和極性。
對於多模布線,應根據 ANSI/TIA-526-14-C 進行衰減測量。ANSI/TIA-526-14-C 規定發射線的輸出必須滿足指定的環形通量 (EF) 模板的要求。符合 EF 啟動條件可確保測量的可重複性。下麵是一個 EF 模板示例,指示目標、限製和溢出的啟動值。
850nm 處 50um 光纖的 EF 要求被定義為一組特定徑向值的限製...
TestPro 技術公告多模光纖適配器:850nm 環形通量 LED 光源
ANSI/TIA-568.3-D 標準規定了光纖布線的傳輸性能和測試要求。已安裝光纖布線的第 1 層測試需要測量衰減(光損耗)、長度和極性。
對於多模布線,應根據 ANSI/TIA-526-14-C 進行衰減測量。ANSI/TIA-526-14-C 規定發射線的輸出必須滿足指定的環形通量 (EF) 模板的要求。符合 EF 啟動條件可確保測量的可重複性。下麵是一個 EF 模板示例,指示目標、限製和溢出的啟動值。
850nm 處 50um 光纖的 EF 要求被定義為一組特定徑向值的限製值,如下表所示。
TestPro 的多模光纖適配器使用 850nm 和 1300nm 雙波長 LED 光源,滿足環形通量要求。Arden Photonics 的 MPX Explorer 測試儀器已用於驗證環通量測量是否滿足所需的 EF 限製。在 FC 到 LC 參考線結束時進行了測量。
環形通量不確定度
對於現場測試設備,單個光端口發射兩個波長。這將不允許同時校準兩個波長。對兩種波長使用通用的心軸/模式調節器將減少模板內的合規餘量並增加不確定性。
由於光源波長變化、模式控製器、溫度變化、其他物理變化和測量設備的影響,如果任何變量發生變化,工廠校準時的發射條件在現場將不會完全相同。使用 IEC 61280-4-1 中描述的衰減人工製品有助於確保設備產生性能可接受的發射條件。