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測試光纖損耗過大怎麼辦?影響光纖損耗因素
日期：2025-05-05 18:11
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摘要：
測試光纖損耗過大怎麼辦?影響光纖損耗因素
福祿克FLUKE的DTX-1800，DTX-1200，DTX-LT，老款FLUKE4000/4100/4300、OTDR、光源光功率計功能：
1. 可提供雙絞線5類、超5類、6類、6A以及7類損耗的福祿克測試；
2. 光纖單模、多模衰減的光纖測試和光纖斷點測試。
3. 並附有福祿克測試或OTDR測試報告！
影響光纖熔接損耗的主要因素：
影響光纖熔接損耗的因素較多，大體可分為光纖本征因素和非本征因素兩類。
1．光纖本征因素是指光纖自身因素，主要有四點。
（1）光纖模場直徑不一致；
（2）兩根光纖芯徑失配；
（3）纖芯截麵不圓；
（4）纖芯與包層同心度不佳。
其中光纖模場直徑不一致影響*大，按CCITT(國際電報電話谘詢委員會)建議，單模光纖的容限標準如下：
模場直徑：（9~10μm）±10％，即容限約±1μm；
包層直徑：125±3μm；
模場同心度誤差≤6％，包層不圓度≤2％。
2．影響光纖接續損耗的非本征因素即接續技術。
（1）軸心錯位：單模光纖纖芯很細，兩根對接光纖軸心錯位會影響接續損耗。當錯位1.2μm時，接續損耗達0.5dB。
（2）軸心傾斜：當光纖斷麵傾斜1°時，約產生0.6dB的接續損耗，如果要求接續損耗≤0.1dB，則單模光纖的傾角應為≤0.3°。
（3）端麵分離：活動連接器的連接不好，很容易產生端麵分離，造成連接損耗較大。當熔接機放電電壓較低時，也容易產生端麵分離，此情況一般在有拉力測試功能的熔接機中可以發現。
（4）端麵質量：光纖端麵的平整度差時也會產生損耗，甚至氣泡。
（5）接續點附近光纖物理變形：光纜在架設過程中的拉伸變形，接續盒中夾固光纜壓力太大等，都會對接續損耗有影響，甚至熔接幾次都不能改善。
3．其他因素的影響。
接續人員操作水平、操作步驟、盤纖工藝水平、熔接機中電極清潔程度、熔接參數設置、工作環境清潔程度等均會影響到熔接損耗的值。
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福祿克FLUKE的DTX-1800，DTX-1200，DTX-LT，老款FLUKE4000/4100/4300、OTDR、光源光功率計功能：
1. 可提供雙絞線5類、超5類、6類、6A以及7類損耗的福祿克測試；
2. 光纖單模、多模衰減的光纖測試和光纖斷點測試。
3. 並附有福祿克測試或OTDR測試報告！
影響光纖熔接損耗的主要因素：
影響光纖熔接損耗的因素較多，大體可分為光纖本征因素和非本征因素兩類。
1．光纖本征因素是指光纖自身因素，主要有四點。
（1）光纖模場直徑不一致；
（2）兩根光纖芯徑失配；
（3）纖芯截麵不圓；
（4）纖芯與包層同心度不佳。
其中光纖模場直徑不一致影響*大，按CCITT(國際電報電話谘詢委員會)建議，單模光纖的容限標準如下：
模場直徑：（9~10μm）±10％，即容限約±1μm；
包層直徑：125±3μm；
模場同心度誤差≤6％，包層不圓度≤2％。
2．影響光纖接續損耗的非本征因素即接續技術。
（1）軸心錯位：單模光纖纖芯很細，兩根對接光纖軸心錯位會影響接續損耗。當錯位1.2μm時，接續損耗達0.5dB。
（2）軸心傾斜：當光纖斷麵傾斜1°時，約產生0.6dB的接續損耗，如果要求接續損耗≤0.1dB，則單模光纖的傾角應為≤0.3°。
（3）端麵分離：活動連接器的連接不好，很容易產生端麵分離，造成連接損耗較大。當熔接機放電電壓較低時，也容易產生端麵分離，此情況一般在有拉力測試功能的熔接機中可以發現。
（4）端麵質量：光纖端麵的平整度差時也會產生損耗，甚至氣泡。
（5）接續點附近光纖物理變形：光纜在架設過程中的拉伸變形，接續盒中夾固光纜壓力太大等，都會對接續損耗有影響，甚至熔接幾次都不能改善。
3．其他因素的影響。
接續人員操作水平、操作步驟、盤纖工藝水平、熔接機中電極清潔程度、熔接參數設置、工作環境清潔程度等均會影響到熔接損耗的值。
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